Storicamente, gli studi sugli effetti della radiazione ionizzante sui dispositivi microelettronici sono stati riservati ad applicazioni particolari, quali lo spazio o la fisica delle alte energie. Tuttavia, da un lato il maggior utilizzo di radiazioni ionizzanti in ambiti piu` vasti, dall`altro la crescente sensibilita` delle tecnologie sub-micrometriche ad eventi che rilascino quantita` anche molto piccole di carica, stanno rendendo lo studio di questi effetti interessante per un `pubblico` sempre piu` vasto. In particolare, il cosidetto `Soft Error Rate` dovuto ai neutroni atmosferici sara` un problema sempre piu` sentito nei prossimi anni.
Nel corso della presentazione verranno presentate tutte queste problematiche e saranno discussi in particolare gli effetti della radiazione ionizzante su memorie Flash.